通過質(zhì)構(gòu)儀的穿刺測試，可以系統(tǒng)地評價成熟的梨與未成熟的梨的差異性。

壓縮試驗通常用來評價梨的結(jié)構(gòu)特性。質(zhì)構(gòu)儀機械測量與感知感官特征的相關(guān)性為主觀參數(shù)的量化提供了一種客觀的方法。質(zhì)構(gòu)性質(zhì)的量化有利于：

¤確定最佳采摘時間

¤控制產(chǎn)品催熟與存儲條件

¤工藝操作的優(yōu)化(如冷凍、焯水、烹飪等)

¤潛在機械損傷(擦傷)指標(biāo)

¤通過客觀質(zhì)量措施對原材料進行控制

¤根據(jù)客戶要求，提供正確成熟度的產(chǎn)品

¤產(chǎn)品貨架保質(zhì)期的量化與成熟度的關(guān)系

方法及設(shè)備

儀器：CTX質(zhì)構(gòu)儀（5Kg負載單元）

附件：2 mm Cylinder Probe (TA-39)

軟件：Texture Pro軟件

測試類型：Compression 壓縮

注意：每個水果的一小部分被切平(如圖所示)，以提供穩(wěn)定的測試表面，便于穿透。

測試參數(shù)

表皮硬度：第一次壓縮周期內(nèi)的正峰峰值。探頭接觸內(nèi)部果肉之前，表皮的屈服點或破裂點。

表皮模量：穿刺過程中的曲線斜率或坡度，反映表皮剛度或結(jié)構(gòu)強度。

表皮破裂的功：

內(nèi)部平均硬度：表皮破裂后正峰的平均值;；表明內(nèi)部果肉的結(jié)構(gòu)強度。

正峰總面積：完成整個測試循環(huán)，測試圖譜的總面積，反映樣品的稠度。

粘附性：總負峰面積，表示從樣品中拔出探頭所需的功粘附力：負峰的峰值。

測試圖譜

下圖是一個典型的CTX質(zhì)構(gòu)儀測試譜圖，顯示了梨的果皮硬度及其他質(zhì)構(gòu)參數(shù)。

結(jié)果分析

未成熟的梨比成熟的梨硬得多，表現(xiàn)為需要更大的力才能使探頭穿過表皮。從表皮破裂后所選峰的平均值可以看出，成熟梨的內(nèi)果肉比未成熟梨柔軟得多。這個測試清楚地顯示了梨的成熟度的差異。

測試結(jié)果如下:

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